高濃度納米粒度及zeta電位分析儀可以迅速確定納米顆粒的粒徑和zeta電位，對(duì)于納米材料的研究具有非常重要的意義。是一種非常精密的設(shè)備，在使用時(shí)需要特別小心，因?yàn)槠錅y(cè)試結(jié)果非常準(zhǔn)確，在使用過(guò)程中不能受到任何的外部干擾，否則會(huì)影響到其測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。主要由激光光源、粒徑分析器和zeta電流儀組成。其原理是先將待測(cè)樣品通過(guò)超聲波等方法將粒子分散均勻，然后利用激光散射原理檢測(cè)粒子的大小和zeta電位的值。
 

　　高濃度納米粒度及zeta電位分析儀可以廣泛應(yīng)用于生物、醫(yī)學(xué)、環(huán)境、材料、電子、以及食品等領(lǐng)域。在生物學(xué)和醫(yī)學(xué)中，可用于研究納米藥物的分散狀態(tài)和組分含量等問題；在環(huán)境學(xué)中，用于研究水、空氣和土壤中的納米材料；在材料學(xué)和電子學(xué)中，可以用于研究納米電子器件和半導(dǎo)體材料的制備等；在食品學(xué)中，可以用于研究各種加工食品中納米材料的含量和分布等問題。在不同領(lǐng)域的應(yīng)用中，這種儀器為研究人員提供了非常重要的數(shù)據(jù)，并在很大程度上推動(dòng)了納米材料技術(shù)的發(fā)展。
 

　　zeta電位是材料分散系統(tǒng)中顆粒表面電荷分布與周圍介質(zhì)之間的電勢(shì)差，在許多顆粒表面化學(xué)反應(yīng)與物理作用中，起重要的作用。電位的測(cè)定可以幫助我們了解材料表面的化學(xué)性質(zhì)，顆粒間相互作用的機(jī)制，以及材料在工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程中的穩(wěn)定性和流變性等重要性質(zhì)。通常采用激光多角度散射技術(shù)或電泳測(cè)量技術(shù)，通過(guò)對(duì)樣品的分散液進(jìn)行測(cè)量，計(jì)算出粒子在電場(chǎng)中的遷移速度，從而求出zeta電位。
 

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